主要用于半导体器件和纳米器件的电学综合性能测试,实时绘图与分析,适合于半导体器件、微电子器件、纳米器件和材料、存储器器件、太阳能电池等测试。
半导体综合分析仪主要用于半导体器件和纳米器件的电学综合性能测试,实时绘图与分析,适合于半导体器件、微电子器件、纳米器件和材料、存储器器件、太阳能电池等测试,具有高精度和亚fA的分辨率能力。
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