（1） 高分辨罗兰环结构X射线单色器，具备XAFS和XES测试功能，Bragg角范围55°-85°，能量范围：不小于5-12 keV，最高可扩展到19 keV；
（2） 光源：1.2 kW XRD型X 射线源和100W XRF型X射线源；
（3） 配备7块Johann型球形弯曲（Si或Ge）晶体，曲率半径为0.5 m；
（4） XAFS能量分辨率0.5-1.5 eV（7-9 keV），重复性 < 50meV；
（5） XES能量分辨率1.0-1.5 eV（7-9 keV），重复性 < 25meV；
（6） 检测器有效光子计数率：300000-500000 photos/s/eV （7-9 keV）；
（7） 通过设置程序，实现样品自动切换功能，从而实现过夜测试需求。

X射线吸收精细结构谱仪用于X射线吸收精细结构光谱（X-Ray Absorption Fine Structure, XAFS）测试，该仪器无需同步辐射光源即可提供XAFS测试，实现对过渡金属元素的价态及配位环境的测定表征。同时，具备X射线荧光发射谱（XES）测试功能，XES本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。可以实现XAFS和XES的便捷快速切换功能。

可以测试元素：Fe, Ti, V, Cr, Mn, Co, Ni, Zn, Se, Cu, Mo, Au, Pt, Zr。
其他元素需提供标准样品。