材料学院-高分辨X射线衍射仪（日本理学）
资产编号：
20149109
联系人：
胡国辛
联系电话：
029-85318798
邮箱：
规格：
SmartLab（9）
放置地点：
2110
生产厂家：
理学电子株式会社
制造国家：
日本
购置日期：
2014-08-28
入网日期：
2021-11-04
型号：
购置日期：
2014-08-28
入网日期：
2021-11-04
资产负责人：
胡国辛
购置日期：
2014-08-28
仪器价格：
251.86
仪器产地：
日本
分类号：
010499
出厂日期：
2014-08-28
主要规格及技术指标:
1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）
7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、入射端Ka1光学组件
12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)
14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）
主要功能及特色:
广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料，可分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。
主要附件及配置:
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
校内计时 校内计样 校外计时 校外计样
常规测试 70 / 200 /
薄膜测试 80 / 240 /
室温-300度变温测试 / 300 / 800
室温-600度变温测试 / 400 / 1000
室温-900度变温测试 / 500 / 1500