薄膜厚度及形貌三维分析系统
薄膜厚度及形貌三维分析系统
资产编号:
S2004856
联系人:
沈壮志
联系电话:
13028511342
邮箱:
shenzhuangzhi5@snnu.edu.cn
规格型号:
厚度范围:20nm-50um;分辨率:0.1nm Dektak-xT
放置地点:
3543
生产厂家:
布鲁克
制造国家:
中国
购置日期:
2020-07-23
入网日期:
2021-11-04
入网日期:
2021-11-04
购置日期:
2020-07-23
仪器价格:
483343
仪器产地:
中国
分类号:
出厂日期:
2020-07-23
资产负责人:
沈壮志
主要规格及技术指标:

1. 厚度范围:20nm-50um
2. 准确性<1nm或<0.5%
3. 分辨率:0.1nm
4. 垂直测量范围:1mm
5. 测试重复性:5A, 1σ@1um step
6. 设备采用LVDT传感器
7. 探针加力范围:1-15mg
8. XY样品台移动范围:150mm*150mm(自动)
9. 样品台尺寸:200mm
10. 可容纳样品厚度:50 mm
11. 含彩色CCD摄像头
12. 标配半径2微米钻石探针
13. 含应力测试软件

主要功能及特色:

1.表面2D台阶形貌; 2.三维表面结构;3.粗糙度

主要附件及配置:

公告名称 公告内容 发布日期
常规 校内 50元/样 校外 100元/样