X射线光电子能谱仪
资产编号：
20142388
联系人：
严向阳
联系电话：
029-81530759
邮箱：
规格型号：
Axis UltraDLD
放置地点：
1111
生产厂家：
日本岛津
制造国家：
英国
购置日期：
2014-09-17
入网日期：
2021-11-04
入网日期：
2021-11-04
购置日期：
2014-09-17
仪器价格：
5357600
仪器产地：
英国
分类号：
010411
出厂日期：
2014-09-17
资产负责人：
严向阳
主要规格及技术指标:
能量分辨率：0.48eV/(Ag 3d5/2），0.68eV/(C 1s)（PET 上O-C=O 的C 1s ）最小分析区域（收谱） 10μm灵敏度（Ag 3d5/2） ：大面积 11,800kcps (1.3eV )空间成像分辨率3微米。
主要功能及特色:
1.用于测量表面化学组成及化学态;2.深度剖析;3.微区定性及半定量分析;4.表面化学图像。1.定性：元素种类及价态信息 X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素; 2.定量：半定量，属于表面灵敏型测试，探测深度小于10纳米; 3.成像：元素XPS二维成像，200-800微米范围
主要附件及配置:
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
校外测样收费 校内测样收费 院内测样时收费
XPS深度剖析 500 200 200
变角XPS 600 200 200
常规测样 150 100 100
微区成像 300 100 100
XPS常规 300 100 100
Mg/Al双阳极 600 200 200